XRD解析 ピーク分離 論文用図作成を承ります

ご覧いただきありがとうございます。 材料科学・固体化学・触媒などの分野に携わる研究者や大学院生の方を対象に、XRD・XPSデータの解析と、学術論文・学会発表用のグラフ作成を承っております。 「リートベルト解析が収束しない」 「不純物相の定量や、固溶体のサイト占有率の設定が難しい」 「XPSの波形分離で、どのような制約条件を設定すればよいか分からない」 「Originで見やすい論文用グラフを作成したい」 こうしたお悩みに対し、データや解析目的に応じた丁寧なサポートを提供いたします。 ━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━ ■ 主なサービス内容 ━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━ 【1．XRD解析・リートベルト法による構造精密化】 ・使用ソフト：GSAS-II、FullProf、JADEなど ・CIFファイルやPDFカード情報などを参照した、主相・不純物相の結晶構造モデルの設定 ・元素置換・ドーピングを考慮したモデルの設定（サイト占有率の固定、制約条件を設けた精密化など） ・試料や測定条件に応じた、各種パラメータの段階的な精密化 　バックグラウンド、スケール因子、回折角のゼロ点ずれ、試料変位、格子定数、プロファイルパラメータ（U、V、W、X、Yなど） ・結晶子サイズ、微小ひずみ、選択配向（March–Dollaseモデルなど）の検討 ・格子定数および単位格子体積の算出 ・多相試料における各結晶相の相対質量分率（wt%）の算出と、推定標準偏差の評価 ・Rp、Rwp、χ²などの指標を用いたフィッティング結果の評価 【2．XPSデータ解析・波形分離（ピークフィッティング）】 ・使用ソフト：CasaXPS、Avantage、MultiPakなど ・適切な基準ピークを用いた帯電補正（C 1sなど） ・バックグラウンドの設定・差し引き（Shirley法、Tougaard法、直線法） ・化学状態ごとの波形分離 ・スピン軌道分裂によるエネルギー差、ピーク面積比、半値幅（FWHM）などを考慮した制約条件の設定 ・ピーク面積に基づく各化学状態の存在比の算出・定量評価 【3．グラフの作成（Origin）】 ・複数試料の比較プロットの作成 ・実測パターン、計算パターン、差分曲線、および各相のBragg反射位置を示すマーカーの配置 ━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━ ■ 解析実績・対応例 ━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━ ・固体電解質（LATPなど）：元素置換を考慮した構造モデルの構築、回折ピークがブロードな不純物相を含む4相の同時精密化・定量相分析 ・ペロブスカイト系材料・複合電極（BCFZY、Ni–BZCYYbなど）：複数元素の混合占有を考慮した構造モデルの構築、第二相（CeO₂など）の定量、結晶子サイズ（nm）および微小ひずみ（ε）の評価 ・電池正極材料（高エントロピーPBAなど）：空孔および複数元素の混合占有を考慮したモデルの設定、球面調和関数による選択配向補正、回折パターンの積分強度に基づく結晶化度（%）の評価 ・多孔性材料（COF・MOF）：DFT計算で得られた構造モデルに基づく単位格子の設定、低角領域におけるLe Bailフィッティング、AA積層モデルの計算回折パターンおよび反射指数（hkl）一覧表の作成 ・無機・鉱物材料（石膏、SiO₂系材料など）：既報の結晶構造データ（CIF）の調査・導入、配位多面体を剛体として扱う構造精密化、結晶子サイズの異方性解析、残存するCu Kβ線由来のピークのモデル化・分離